K
Kurt
Guest
Am 09.05.2020 um 19:47 schrieb Helmut Schellong:
Jede Temperaturänderung ist Stress für Bauteile, egal welcher Art.
Sind es Transistoren dann besteht jedes davon aus drei Schichten und
somit zwei Übergängen unterschiedlichen Materials pro Bauteil.
Ob, und wieweit sich thermische Änderungen auf das Bauteil, die
Stresswirkung der Berührungsstellen der einzelnen Schichten, nachteilig
auswirken hängt von der Anzahl der Änderungen und deren Intensität ab.
Bleibt das Bauteil \"kühl\" und geht die Änderung langsam ist der Stress
gering.
Wird ein IC/Bauteil einmal erwärmt/abgekühlt ist das zweimal
mechanischer Stress.
Passiert das oft dann ist es mehrmaliger Stress.
Entsprechend ist der mechanische Verschleiss.
Ja es ist mechanischer Verschleiss, die Bauteile gehen kaputt, ihre
\"Schichtung\" bricht.
Ähnlich dem was mit der Lötstelle passiert wenn das Bauteil oberhalb bei
jeder Erwärmung/Abkühlung daran drückt und zieht.
Ob die Bauteile nun einzeln auf einer Platine stecken, oder gemeinsam in
einem IC, ist nicht entscheidend.
Je öfter und stärker die Temperatur wechselt desto öfter werden sie
gestresst, desto schneller geht das/die Bauteile kaputt.
Die Lebensdauer von Halbleitern hängt nur zum Teil von dessen
Betriebstemperatur ab, sondern auch, und das wohl überwiegend, von
dessen \"erfahrenen\" Temperaturzyklen.
Kurt
On 05/09/2020 18:23, Kurt wrote:
Am 09.05.2020 um 15:55 schrieb Helmut Schellong:
On 05/09/2020 10:21, Hans-Juergen Schneider wrote:
Generell steigt die Fehlerwahrscheinlichkeit
mit jeder vorhandenen Lötstelle.
Redundante Lötstellen und reine Befestigungslötungen sind nicht gemeint.
Deshalb ist ein IC mit 8 Pins sicherer als dessen Innenschaltung
diskret aufgebaut mit 350 Lötstellen.
Desweiteren ist ein IC nur 1 Bauelement.
Ist es nicht, beim IC \"brechen\" die Hableiterübergänge wenn sie oft
genug gestresst werden.
Jede Temperaturänderung bedeutet eine mechanische Belastung derselben.
Lässt sich indirekt mit den gestressten Lötstellen vergleichen.
Das gilt für 150 diskrete Halbleiter-Bauelemente (statt 1 IC) ebenso.
Im IC befindet sich 1 Chip.
Diskret sind das z.B. 150 Chips plus die passiven BE.
Alle diese BE werden thermisch gestreßt.
Ich wundere mich ziemlich über diese Entgegnung.
Jede Temperaturänderung ist Stress für Bauteile, egal welcher Art.
Sind es Transistoren dann besteht jedes davon aus drei Schichten und
somit zwei Übergängen unterschiedlichen Materials pro Bauteil.
Ob, und wieweit sich thermische Änderungen auf das Bauteil, die
Stresswirkung der Berührungsstellen der einzelnen Schichten, nachteilig
auswirken hängt von der Anzahl der Änderungen und deren Intensität ab.
Bleibt das Bauteil \"kühl\" und geht die Änderung langsam ist der Stress
gering.
Wird ein IC/Bauteil einmal erwärmt/abgekühlt ist das zweimal
mechanischer Stress.
Passiert das oft dann ist es mehrmaliger Stress.
Entsprechend ist der mechanische Verschleiss.
Ja es ist mechanischer Verschleiss, die Bauteile gehen kaputt, ihre
\"Schichtung\" bricht.
Ähnlich dem was mit der Lötstelle passiert wenn das Bauteil oberhalb bei
jeder Erwärmung/Abkühlung daran drückt und zieht.
Ob die Bauteile nun einzeln auf einer Platine stecken, oder gemeinsam in
einem IC, ist nicht entscheidend.
Je öfter und stärker die Temperatur wechselt desto öfter werden sie
gestresst, desto schneller geht das/die Bauteile kaputt.
Die Lebensdauer von Halbleitern hängt nur zum Teil von dessen
Betriebstemperatur ab, sondern auch, und das wohl überwiegend, von
dessen \"erfahrenen\" Temperaturzyklen.
Kurt