Brauchen Ihre Hilfe. BGR Testergebnis Analyse

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rock_zhu

Guest
Hallo alle. Meine BGR wurde kürzlich fabed. Das spec Ausgangsspannung 1.2V. Aber die Ergebnisse zeigen, Vref Verteilung gaussion von 1,0 V bis 1,4 V. Diese BGR wurde ein neues Verfahren, die mit einem CMOS-Prozess und einige 5V transsitors verbindet fabed. Diese BGR-Architektur wurde von anderen Verfahren überprüft und zeigt bessere gaussion von 1,1 ~ 1,3 V. Ist die Schaltung Problem oder Verfahrensvariante Problem? Wie kann ich Analyse thedistribution Problem wie dieses? Vielen Dank im Voraus.
 
überprüfen Sie die Avt Parameter (Pelgrom Koeffizient) für die Transistoren in der ursprünglichen Modelle und die extrahierten Parameter (wenn Wafer health report verfügbar ist). Dieser Anstieg der Variation sollte wegen der Zunahme der Mismatch werden. Alternativ kann der Stromspiegel möglicherweise nicht in ausreichender Inversion betrieben, was zu einem größeren Konflikt-Effekt (auch bei gleichen Missverhältnis Parameter der Transistoren). Hope this helps!
 

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