Ausfallverhalten 1N4148...

[Wolfgang Martens]

Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA Diodenmatrix aus
1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es das gibt). Lötstellen
sind in Ordnung.
Dass so eine Glasdiode gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar
und könnte an einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip,
Fehler an der Glas-Metallverbindung ... liegen.
Aber ist ein zeitweiser Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei
20°C) bauartbedingt überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen?
Hat da jemand Informationen?

 

[Hartmut Kraus]

Am 22.01.23 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:

Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA Diodenmatrix aus 1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es das gibt). Lötstellen sind in Ordnung.
Dass so eine Glasdiode gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler an der Glas-Metallverbindung ... liegen.
Aber ist ein zeitweiser Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) bauartbedingt überhaupt möglich,

Bauartbedingt sicher nicht, im Fehlerfall ist alles möglich, sagt man mir.

Aber wenn du schon weißt, welche: Auswechseln und feddich, nee?

--
\"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug.\" (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

 

[Leo Baumann]

Am 22.01.2023 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:

Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA Diodenmatrix aus
1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es das gibt). Lötstellen
sind in Ordnung.
Dass so eine Glasdiode gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar
und könnte an einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip,
Fehler an der Glas-Metallverbindung ... liegen.
Aber ist ein zeitweiser Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei
20°C) bauartbedingt überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen?
Hat da jemand Informationen?

Bei Überstrom hochohmig. Ansonsten gehen 1N4148 *NIE* kaputt .

 

[Hartmut Kraus]

Am 22.01.23 um 20:52 schrieb Leo Baumann:

Am 22.01.2023 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:
Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA Diodenmatrix aus 1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es das gibt). Lötstellen sind in Ordnung.
Dass so eine Glasdiode gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler an der Glas-Metallverbindung ... liegen.
Aber ist ein zeitweiser Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) bauartbedingt überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen?
Hat da jemand Informationen?

Bei Überstrom hochohmig. Ansonsten gehen 1N4148 *NIE* kaputt .

Ich kann also bedenkenlos 10kV in Sperrrichtung anlegen?

--
\"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug.\" (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

 

[Leo Baumann]

Am 23.01.2023 um 01:05 schrieb Hartmut Kraus:

Bei Überstrom hochohmig. Ansonsten gehen 1N4148 *NIE* kaputt 😄.

Ich kann also bedenkenlos 10kV in Sperrrichtung anlegen? 😉

ha-ha-ha

 

[Newdo]

Am 22.01.2023 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:

Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA Diodenmatrix aus
1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es das gibt). Lötstellen
sind in Ordnung.
Dass so eine Glasdiode gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar
und könnte an einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip,
Fehler an der Glas-Metallverbindung ... liegen.
Aber ist ein zeitweiser Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei
20°C) bauartbedingt überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen?
Hat da jemand Informationen?

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der Fehlerarten
bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18%
Offen 24%
Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in 10^9 Stunden

Hope it helps- Udo

 

[Wolfgang Martens]

Am Mo.,23.01.23 um 08:27 schrieb Newdo:

Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA
Diodenmatrix aus 1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es
das gibt). Lötstellen sind in Ordnung. Dass so eine Glasdiode
gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an
einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler
an der Glas-Metallverbindung ... liegen. Aber ist ein zeitweiser
Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) bauartbedingt
überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen? Hat da
jemand Informationen?

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der
Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18% Offen 24% Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in
10^9 Stunden

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war
mir klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft
hochohmig werden könnte.

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder
extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als
Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

 

[Hartmut Kraus]

Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

Am Mo.,23.01.23 um 08:27 schrieb Newdo:
Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA
Diodenmatrix aus 1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es
das gibt). Lötstellen sind in Ordnung. Dass so eine Glasdiode
gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an
einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler
an der Glas-Metallverbindung ... liegen. Aber ist ein zeitweiser
Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) bauartbedingt
überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen? Hat da
jemand Informationen?

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18%   Offen 24%    Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in
10^9 Stunden

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft hochohmig werden könnte.

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

Mal die Platine unter die Lupe genommen?

--
\"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug.\" (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

 

[Newdo]

Am 23.01.2023 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir
klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft
hochohmig werden könnte.

Gut dass dir das klar war.

Die angegebenen Ausfallraten und Moden beziehen übrigens sich nicht auf
zerstörerischen Betrieb, sondern auf Betrieb innerhalb der
spezifizierten Ratings bei definierter (Über-) Temperatur.

Gruß Udo

 

[Hanno Foest]

Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der
Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18%   Offen 24%    Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in
10^9 Stunden

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir
klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft
hochohmig werden könnte.

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder
extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als
Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall +
Kontaktierungsproblem.

Hanno

--
The modern conservative is engaged in one of man\'s oldest exercises in
moral philosophy; that is, the search for a superior moral justification
for selfishness.
- John Kenneth Galbraith

 

[Hartmut Kraus]

Am 23.01.23 um 11:13 schrieb Hanno Foest:

Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18%   Offen 24%    Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in
10^9 Stunden

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft hochohmig werden könnte.

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall + Kontaktierungsproblem.

Ich verstehe trotzdem die ganzen theoretischen Erörterungen nicht so richtig, schon gar nicht bei

> Fehlerraten in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in 10^9 Stunden

--
\"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug.\" (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

 

[Hanno Foest]

Am 23.01.23 um 11:40 schrieb Hartmut Kraus:

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall +
Kontaktierungsproblem.

Ich verstehe trotzdem die ganzen theoretischen Erörterungen nicht so
richtig

Wie kann das nur sein.

Hanno

--
The modern conservative is engaged in one of man\'s oldest exercises in
moral philosophy; that is, the search for a superior moral justification
for selfishness.
- John Kenneth Galbraith

 

[Hartmut Kraus]

Am 23.01.23 um 11:42 schrieb Hanno Foest:

Am 23.01.23 um 11:40 schrieb Hartmut Kraus:

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall + Kontaktierungsproblem.

Ich verstehe trotzdem die ganzen theoretischen Erörterungen nicht so richtig

Wie kann das nur sein.

Komische Frage. Ich hätte wie gesagt das Ding längst ausgewechselt (kostet ja wohl kein Rittergut), und wenn die Schaltung dann immer noch \'rumspinnt, kann\'s ja wohl nur an der Platine liegen, oder??

--
\"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug.\" (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

 

[Wolfgang Martens]

Am Mo.,23.01.23 um 11:13 schrieb Hanno Foest:

Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der
Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18% Offen 24% Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1
in 10^9 Stunden

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist
war mir klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also
dauerhaft hochohmig werden könnte.

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss
(oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also
als Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall +
Kontaktierungsproblem.

Ist es denkbar, dass der Kurzschluss im Kristall nur temporär
auftritt, oder ist der dann immer dauerhaft?

 

[Wolfgang Martens]

Am Mo.,23.01.23 um 11:50 schrieb Hartmut Kraus:

...ist temporärer Kurzschluss bei 1N4141 möglich?

Komische Frage. Ich hätte wie gesagt das Ding längst ausgewechselt
(kostet ja wohl kein Rittergut), und wenn die Schaltung dann immer
noch \'rumspinnt, kann\'s ja wohl nur an der Platine liegen, oder??

Ich suche keinen Haarriss, oder Kontaktunterbrechung, sondern von der
Störung her könnte es ein temporärer Kurzschluss sein, den ich
ausschließen will. Die Platinenunterseiten sind zugänglich und
unauffällig.
Die vielen Matrixdioden sitzen verteilt auf mehreren Platinen teils
unterhalb anderen vielpoligen Bauteilen und wurden vor dem Verlöten
auch noch umgebogen.

Falls kein temporärer Kurzschluss bei 1N4148 bekannt ist, verwende ich
meine Zeit zuerst bei der Auswertschaltung.

 

[Rolf Bombach]

Leo Baumann schrieb:

Am 22.01.2023 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:
Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA Diodenmatrix aus 1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es das gibt). Lötstellen sind in Ordnung.
Dass so eine Glasdiode gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler an der Glas-Metallverbindung ... liegen.
Aber ist ein zeitweiser Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) bauartbedingt überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen?
Hat da jemand Informationen?

Bei Überstrom hochohmig. Ansonsten gehen 1N4148 *NIE* kaputt .

Die 1N914 könnte 4 A Impuls aushalten, die 1N4148 deren 2.

--
mfg Rolf Bombach

 

[Hartmut Kraus]

Am 23.01.23 um 12:51 schrieb Wolfgang Martens:

Am Mo.,23.01.23 um 11:50 schrieb Hartmut Kraus:

...ist temporärer Kurzschluss bei 1N4141 möglich?

Komische Frage. Ich hätte wie gesagt das Ding längst ausgewechselt
 (kostet ja wohl kein Rittergut), und wenn die Schaltung dann immer
 noch \'rumspinnt, kann\'s ja wohl nur an der Platine liegen, oder??

Ich suche keinen Haarriss, oder Kontaktunterbrechung, sondern von der Störung her könnte es ein temporärer Kurzschluss sein, den ich ausschließen will. Die Platinenunterseiten sind zugänglich und unauffällig.
Die vielen Matrixdioden sitzen verteilt auf mehreren Platinen teils unterhalb anderen vielpoligen Bauteilen und wurden vor dem Verlöten auch noch umgebogen.

Falls kein temporärer Kurzschluss bei 1N4148 bekannt ist, verwende ich meine Zeit zuerst bei der Auswertschaltung.

Naja, ich würde sagen: Du wärst auch nicht der erste, bei dem irgend ein Fehler zum ersten Mal auftritt, der hier keinem bekannt ist. Aber du machst das schon. Ich halte mich da jetzt \'raus, vor allem, weil ich ja nicht die leiseste Ahnung habe, wie deine Schaltung eigentlich funktionieren soll, und wozu.

--
\"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug.\" (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

 

[Hartmut Kraus]

Am 23.01.23 um 12:51 schrieb Wolfgang Martens:

Am Mo.,23.01.23 um 11:50 schrieb Hartmut Kraus:

...ist temporärer Kurzschluss bei 1N4141 möglich?

Komische Frage. Ich hätte wie gesagt das Ding längst ausgewechselt
 (kostet ja wohl kein Rittergut), und wenn die Schaltung dann immer
 noch \'rumspinnt, kann\'s ja wohl nur an der Platine liegen, oder??

Ich suche keinen Haarriss, oder Kontaktunterbrechung, sondern von der Störung her könnte es ein temporärer Kurzschluss sein, den ich ausschließen will. Die Platinenunterseiten sind zugänglich und unauffällig.

Und die Oberseiten? (Vorletzte dumme Frage)

> Die vielen Matrixdioden sitzen verteilt auf mehreren Platinen teils unterhalb anderen vielpoligen Bauteilen

Nicht schlecht. Und da könnte nicht \"irgendwas\" gelegentlich einen Kurzschluss machen? (Letzte dumme Frage)

und wurden vor dem Verlöten auch noch umgebogen.


Falls kein temporärer Kurzschluss bei 1N4148 bekannt ist, verwende ich meine Zeit zuerst bei der Auswertschaltung.

--
\"Man sollte keine Dummheit zweimal begehen, die Auswahl ist schließlich groß genug.\" (Jean-Paul Sartre)

https://hkraus.eu/hk/Profil.pdf

 

[Hanno Foest]

Am 23.01.23 um 12:26 schrieb Wolfgang Martens:

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss
(oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also
als Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall +
Kontaktierungsproblem.
Ist es denkbar, dass der Kurzschluss im Kristall nur temporär auftritt,
oder ist der dann immer dauerhaft?

Einen temporären Kristalldefekt kann ich mir nicht so recht vorstellen.
Was aber möglicherweise nur eine Aussage über meine Vorstellungskraft ist.

Hanno

--
The modern conservative is engaged in one of man\'s oldest exercises in
moral philosophy; that is, the search for a superior moral justification
for selfishness.
- John Kenneth Galbraith

 

[Helmut Schellong]

On 01/23/2023 10:07, Wolfgang Martens wrote:

Am Mo.,23.01.23 um 08:27 schrieb Newdo:
Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA
Diodenmatrix aus 1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es
das gibt). Lötstellen sind in Ordnung. Dass so eine Glasdiode
gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an
einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler
an der Glas-Metallverbindung ... liegen. Aber ist ein zeitweiser
Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) bauartbedingt
überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen? Hat da
jemand Informationen?

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18%   Offen 24%    Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in
10^9 Stunden

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft hochohmig werden könnte.

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

Meine konkrete Erfahrung ist, daß Kurzschluß sowie Unterbrechung stets dauerhaft waren.
Bei Kurzschluß wird auch von \'durchlegiert\' gesprochen.

Integrierte Schaltkreise können einen Design-Fehler enthalten, so daß sie bei korrekter Verwendung
und ohne Power-Funktion permanent z.B. 70°C heiß sind.
Solche ICs /zermürben/ innerhalb von z.B. 3 Jahren und zeigen dann interne Wackelkontakte.

Transistoren mit Parameteränderung hatte ich auch schon.
Deshalb lege ich Wert darauf, meine analoge Ohm-Messung zu erhalten:
http://www.schellong.de/img/div/mess/amm_lifepo4.jpg
weil die eine bestimmte Charakteristik offenbart, an der ich Fehlerarten erkennen kann.


--
Mit freundlichen Grüßen
Helmut Schellong var@schellong.biz
http://www.schellong.de/c.htm http://www.schellong.de/c2x.htm http://www.schellong.de/c_padding_bits.htm
http://www.schellong.de/htm/bishmnk.htm http://www.schellong.de/htm/rpar.bish.html http://www.schellong.de/htm/sieger.bish.html
http://www.schellong.de/htm/audio_proj.htm http://www.schellong.de/htm/audio_unsinn.htm http://www.schellong.de/htm/tuner.htm
http://www.schellong.de/htm/string.htm http://www.schellong.de/htm/string.c.html http://www.schellong.de/htm/deutsche_bahn.htm
http://www.schellong.de/htm/schaltungen.htm http://www.schellong.de/htm/math87.htm http://www.schellong.de/htm/dragon.c.html